Название: Надёжность электронных средств измерений
Автор: В.С. Грубник, Ю.М. Крысин
Издательство: Пензенского Государственного Университета
Год: 2001
Страниц: 120
Формат: djvu
Размер: 1,12 mb
Качество: Отличное
Язык: Русский
Рассматриваются основные теории, критерии и количественные характеристики надёжности электронных средств измерений. Большое внимание уделено оценке количественных характеристик надёжности интегральных микросхем, индикаторов, трансформаторов, коммутирующих устройств, полупроводниковых приборов, резисторов, конденсаторов, печатных плат.